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湿膜测厚仪不受被测物的温度与材质的影响
点击次数:142 发布时间:2019-06-24
   湿膜测厚仪采用脉冲反射波法。超声波从一种均匀介质向另一种介质传播时,在界面会发生反射,测厚仪可测出探头自发出超声波至收到界面反射回波的时间。超声波在各种钢材中的传播速度已知,或通过实测确定,由波速和传播时间测算出钢材的厚度,对于数字456测厚仪,厚度值会直接显示在显示屏上。
 
  现在生产厂家越来越重视生产中的自动化程度,因此板材的厚度测量也在不断向自动化发展,激光测厚仪是现在常用的厚度在线测量设备,具有测量精度高,实时性好,无辐射危害等多种优势。456测厚仪是由上下两个对射的激光测距传感器组成的,工作时上下两个传感器分别测量传感器与被测物上、下表面的距离,用两个传感器之间的总距离减掉两个传感器测量的距离即可得到被测物的厚度。
 
  湿膜测厚仪则不受被测物的温度与材质的影响,实现高精度的在线测量,同时由于射线测厚仪具有辐射,相关审查程序非常多,而激光测厚仪没有危害,可放心使用,即买即用。456测厚仪对厚度较大的板材则无法测量,激光测厚仪则不受此限制,对大型板材的厚度也可进行在线测量,测量范围广,可根据生产板材的厚度值来定制。
 
  湿膜测厚仪对材料表面保护、装饰形成的覆盖层进行厚度测量的仪器,测量的对象包括涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等。
 
  易高测厚仪采用磁感应原理时,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。覆层越厚,则磁阻越大,磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪,原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性,则要求与基材的导磁率之差足够大。
 
  湿膜测厚仪的出现给很多需要测量的企业提供了更好的设备支持,但是测厚仪在使用中难免会出现一些问题会影响到测量结果的准确性,易高测厚仪主要有哪几种情况呢?具体的处理方法是什么?本文就针对这些问题进行介绍。
 
  1、被测物表面有覆盖物
 
  在进行厚度测量之前应该先将被测物表面都清理干净,比如灰尘、污渍或者一些附着物等,都会影响到测量结果的准确性。
 
  2、被测物表面太粗糙
 
  被测物的表面太过粗糙也会影响测量结果的准确性,严重的话还会造成机器不读数。所以在测量之前要尽可能的使被测物的表面变得光洁无杂质。
 
  3、粗加工表面
 
  有一些车床表面会有一些轻微的细槽,这些细槽也会使测量结果不准确,易高测厚仪具体的处理方法可以参照第二种。
 
  4、圆柱型表面
 
  被测物如果是圆柱型材料的话,如油桶、管子等,务必要正确选择被测材料和设备隔层板之前的角度,才能测量出比较准确的结果。
 
  不同的被测物,对于设备隔层板和被测材料的角度是不同的。比如直径比较小的管子,不仅可以使用管子轴线平行的方法,还可以使用垂直的方法;如果是直径较大的管子,就只能选择垂直的方法。
 
  5、符合外形
 
  如果被测物是一些复合外形,比如圆柱型材料的弯头处,仍然可以使用上面所介绍的方法,不一样的地方就是要进行第二次测量,在测量中,要分别测量隔层板和被测物轴线平行情况下和垂直情况下的两个数值,从中取一个比较小的那个数字作为终的测量厚度。
 
  6、不平行表面
 
  要想得到比较稳定、的厚度测量结果,易高测厚仪被测面务必要与被测材料的另一表面平行或者同轴,不然会造成比较大的测量误差或者会使仪器完全不读数。
 
  当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时,仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头,测量感应电动势的大小,易高测厚仪将该信号放大后来指示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术,利用磁阻来调制测量信号。还采用设计的集成电路,引入微机,使测量精度和重现性有了大幅度的提高(几乎达一个数量级)。现代的磁感应测厚仪,分辨率达到0.1um,允许误差达1%,量程达10mm。
 
  磁性原理金属测厚仪可应用来测量钢铁表面的油漆层,瓷、搪瓷防护层,塑料、橡胶覆层,包括镍铬在内的各种有色金属电镀层,以及化工石油待业的各种防腐涂层。
 
  湿膜测厚仪是用来测量材料及物体厚度的仪表。易高测厚仪在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度(如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料)。
 
  这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的放射性厚度计;有利用超声波频率变化的超声波厚度计;有利用涡流原理的电涡流厚度计;还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。
 
  湿膜测厚仪测量注意事项:
 
  1、在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
 
  2、测量时侧头与试样表面保持垂直。
 
  3、测量时要注意基体金属的临界厚度,如果大于这个易高测厚仪就不受基体金属厚度的影响。
 
  4、测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。
 
  5、测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场,如果会将会干扰磁性测厚法。
 
  6、测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量,因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。
 
  7、在测量时要保持压力的恒定,否则会影响测量的读数。
 
  8、在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触,因此易高测厚仪在进行对侧头清除附着物质。