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易高测厚仪影响数值的解决办法
点击次数:797 发布时间:2017-01-03
  易高测厚仪是一种在线检测厚度仪器。采用德国IGM公司传感器,性能稳定、测量准确、经济耐用;在国内镀铝薄膜行业得到广泛应用,得到用户的信任与好评。测厚仪zui关键的部件是传感器,本仪器对传感器做了特殊的耐久性设计,具有防震、防尘、防静电等防护功能。镀铝薄膜行业是使用环境zui恶劣的,对膜厚检测的要求也高;传感器时常受到铝粉的侵蚀;本产品经历了十几年在恶劣条件下使用的考验,它是一种性能优良、可靠实用的检测仪器。
  易高测厚仪应用范围:
  用于检测各种非金属基体上导电覆盖层的厚度测量,可测铝、铬、镍、铜、锌、锡、银、金等金属镀层,复合镀层约20几种镀层/基体组合。例如:镀铝薄膜、镀铝纸、铝板、铝箔、铜箔、银箔、铝塑板等其他涂层材料。易高测厚仪适于在生产现场或施工现场对产品进行快速无损检查。
  影响易高测厚仪测量值的因素与解决方法:
  1、边界间距如果探头与被测体边界、孔眼、空腔、其他截面变化处的间距小于规定的边界间距,由于磁通或涡流载体截面不够将导致测量误差。如必须测量该点的覆层厚度,只有预先在相同条件的无覆层表面进行校准,才能测量。
  2、基体表面曲率在一个平直的对比试样上校准好一个初始值,然后在测量覆层厚度后减去这个初始值。
  3、基体金属zui小厚度基体金属必须有一个给定的zui小厚度,使探头的电磁场能完全包容在基体金属中,zui小厚度与测量器的性能及金属基体的性质有关,在这个厚度之上刚好可以进行测量而不用对测量值修正。对于基体厚度不够而产生的影响,可以采取在基材下面紧贴一块相同材料的措施予以消除。如难以决断,或无法加基材则可以通过与已知覆层厚度的试样进行对比来确定与额定值的差值。并且在测量中考虑这点而对测量值作相应的修正或参考第2条修正。而那些可以标定的易高测厚仪通过调整旋钮或按键,便可以得到准确的直读厚度值。反之利用厚度太小产生的影响又可以研制直接测铜箔厚度的易高测厚仪
  4、表面粗糙度和表面清洁度在粗糙度表面上为获得一个有代表性的平均测量值必须进行多次测量才行。显而易见,不论是基体或是覆层,越粗糙,测量值越不可靠。为获得可靠的数据,基体的平均粗糙度Ra应小于覆层厚度的5%。而对于表面杂质,则应予去除。有的易高测厚仪上下限,以剔除那些“飞点”。
  5、探头测量板的作用力探头测量时的作用力应是恒定的。并应尽可能小。才不致使软的覆层发生形变,以致测量值下降。活产生大的波动,必要时,可在两者之间垫一层硬的,不导电的,具有一定厚度的硬性薄膜。这样通过减去薄膜厚度就能适当地得到剩磁。
  6、外界恒磁场、电磁场和基体剩磁应该避免在有干扰作用的外界磁场附近进行测量。残存的剩磁,根据易高测厚仪的性能可能导致或多或少的测量误差,但是如结构钢,深冲成形钢板等一般不会出现上述现象。
  7、覆层材料中的铁磁成份和导电成份覆层中存在某些铁磁成分,如某种颜料时,会对测量值产生影响,在这种情况下,对用作校准的对比试样覆层应具有与被测物覆层相同的电磁特性,经校准后使用。使用的方法可以是将同样的覆层涂在铝或铜板试样上,用电涡流法测试后获得对比标准试样。